AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達台

的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供全自動操作平台。新開發的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。並且，通過SEM-AFM共享坐標樣品台可輕鬆實現同一視野的相互觀察分析。

特點

1. 自動化功能

• 高度集成自動化功能追求高效率檢測

• 降低檢測中的人為操作誤差

 
 4英寸自動馬達台

自動更換懸臂功能

2. 可靠性

排除機械原因造成的誤差

大範圍水平掃描

采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對掃描器圓弧運動所產生的曲麵，通常通過軟件校正方式獲得平麵數據。但是，用軟件校正方式不能*消除掃描器圓弧運動的影響，圖片上經常發生扭曲效果。
AFM5500M搭載了研發的水平掃描器，可實現不受圓弧運動影響的測試。 

樣品 ：矽片上的非晶矽薄膜

高精角度測量

普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器，在豎直伸縮的時候，會發生彎曲（crosstalk）。這是圖像在水平方向產生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的掃描器，在豎直方向上不會發生彎曲（crosstalk） ，可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。

樣品 : 太陽能電池(由於其晶體取向具有對稱結構)

• * 使用AFM5100N（開環控製）時

3. 融合性

親密融合其他檢測分析方式

通過SEM－AFM的共享坐標樣品台，可實現在同一視野快速的觀察分析樣品的表麵形貌，結構，成分，物理特性等。

SEM-AFM在同一視野觀察實例（樣品：石墨烯/SiO₂）

上圖是AFM5500M拍攝的形貌像（AFM像）和電位像（KFM像）分別和SEM圖像疊加的應用數據。

•     通過分析AFM圖像可以判斷，SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。

•     石墨烯層數不同導致表麵電位（功函數）的反差。

•      SEM圖像對比度不同，可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。

與其他顯微鏡以及分析儀器聯用正在不斷開發中。