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係列標準塞規式測量係統

產品時間:2024-05-30

訪問次數:810

簡要描述:

係列標準塞規式測量係統
該量儀屬於比對法測量,可快速高效測量孔內幾何形狀,自定中心,應用範圍廣,操作簡單精度高,結構牢固長壽命,不會劃傷工件

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0-1係列標準塞規式測量係統

 該量儀屬於比對法測量,可快速高效測量孔內幾何形狀,自定中心,應用範圍廣,操作簡單精度高,結構牢固長壽命,不會劃傷工件

DIATEST塞規式測量係統*的導向體設計,了測量結果的可能性,解決了孔徑測量的對中難題,限度減少了人為因素測量結果的影響,可方便、快速、得出測量結果。

測頭為非標定製,按圖紙及使用要求加工製作!

測頭結構

測頭參數

1、手柄

測頭形式:標準孔

2、顯示裝置

測量範圍:+0.2mm

3、測針

重複精度:0.001mm

4、導向體

線性誤差:1%測量行程

5、兩瓣體

測點半徑:4.5mm

6、測點

測頭壽命:可達100萬次

 











導向體根據被測工件製定BMD測頭的精度來源。

測量結果可靠不受人為因素影響

可提供刻字服務如客戶的特定ID號、公差等

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