產品時間:2024-05-30
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該量儀屬於比對法測量,可快速高效測量孔內幾何形狀,自定中心,應用範圍廣,操作簡單精度高,結構牢固長壽命,不會劃傷工件
DIATEST塞規式測量係統*的導向體設計,了測量結果的可能性,解決了孔徑測量的對中難題,限度減少了人為因素測量結果的影響,可方便、快速、得出測量結果。
測頭為非標定製,按圖紙及使用要求加工製作!
測頭結構 | 測頭參數 | ||
1、手柄 | 測頭形式:標準孔 | ||
2、顯示裝置 | 測量範圍:+0.2mm | ||
3、測針 | 重複精度:0.001mm | ||
4、導向體 | 線性誤差:1%測量行程 | ||
5、兩瓣體 | 測點半徑:4.5mm | ||
6、測點 | 測頭壽命:可達100萬次 |
導向體根據被測工件製定是BMD測頭的精度來源。
測量結果可靠不受人為因素影響
可提供刻字服務如客戶的特定ID號、公差等