美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀：
廣泛用於測量空氣中的顆粒尺寸分布的標準。這一係統也經常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。

美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀：
廣泛用於測量空氣中的顆粒尺寸分布的標準。這一係統也經常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。

美國國家標準與技術研究所（  NIST ）使用一個 TSI DMA 尺寸為 60 nm和 100 nm  的標準尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個經確地粒徑檢測技術，沒有假設顆粒的形狀粒度分布而直接測量數濃度。該方法是獨立的顆粒或流體的折射率，並具有高度的尺寸精度和測量重複性。  TSI 模型 3938  是粒徑譜儀的第三代；可信的研究人員超過 30 年。

美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀特點和優點  

高分辨率數據：多達 167  個通道

廣泛的尺寸範圍：從 2.5 nm  到 1000 nm 

 ISO 15900:2009  兼容

快速測量：＜ 10  秒掃描

寬的濃度範圍內， 10⁷  particles/cm³

大的靈活性組件的設計

無需電腦的操作， 觸摸屏控製

易於安裝與不安裝工具和自動發現部件

離散粒子測量：適用於多模樣本

獨立的顆粒和流體的光學性質

寬範圍的係統的選擇：水或丁醇計數器供選擇；傳統的或非放射性中和器的選擇

應用  

納米技術研究和材料的合成

大氣研究和環境監測

燃燒和發動機排氣的研究

室內空氣質量的測量

核 /  冷凝的研究

吸入毒理學研究

內容包括  

靜電分類器與您選擇的 DMA  柱

可兼容六種 CPC 

氣溶膠儀器 ®  軟件經理

數據采集計算機必須單獨購買。